Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007
Producent: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007 Zbiorowa Praca W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie tylko parametrów 2D, ale także obrazu powierzchni.
Sklep: gandalf.com.pl
Cena:
5.13
4.92
Przejdź do sklepu